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Erstellt: 28. November 2025

Disputation von Christian Benz

Christian Benz verteidigte erfolgreich seine Dissertation zur bildbasierten Risserkennung für die Bauwerksinspektion.

Christian Benz verteidigte am 28. November 2025 erfolgreich seine Dissertation mit dem Titel "Bildbasierte Risserkennung für die Bauwerksinspektion" an der Bauhaus-Universität Weimar. In der Arbeit wird überzeugend dargestellt, wie die Bildaufnahme, Trainingsdaten für tiefgehendes Lernen und Algorithmen für neuronale Netze die Erkennungsleistung unter schwierigen Bedingungen beeinflussen. Das mit dem Datensatz OMNICRACK30k konfigurierte und trainierte nnU-CRACKNET liefert vielversprechende Ergebnisse bei der Erkennung von Rissen auf unterschiedlichen Oberflächenmaterialien. Die neue Metrik clIoU ermöglicht beim pixelweisen Vergleich linienhafter Rissstrukturen die Berücksichtigung leichter Positionsunschärfen. Die räumliche Lokalisierung von Rissen am Bauwerk erleichtert die Bewertung ihres Schweregrads. Zu diesem Zweck wurden die halbsynthetischen bzw. realen Datensätze CRACKENSEMBLES und CRACKSTRUCTURES vorgestellt. Die als ENSTRECT bezeichnete Risserkennung in 2,5D wird mithilfe einer rekonstruierten 3D-Punktwolke realisiert. Das vorgeschlagene Fusionsschema erkennt erfolgreich Oberflächenrisse in praxisrelevanten Anwendungsfällen. Die Leistungsfähigkeit der Risssegmentierung hängt jedoch stark von der Bildqualität ab und "In-the-wild"-Bedingungen stellen weiterhin eine Herausforderung dar.

Computer Vision Konferenzen (Auswahl)

NameOrtEinreichungDatum
CVPR 2026: IEEE/CVF Conference on Computer Vision and Pattern RecognitionDenver,
Colorado,
USA
13. Nov 20253-7. Jun 2026
ICCV 2025: IEEE/CVF International Conference on Computer VisionHonolulu, 
Hawaii
7. Mär 202519-23. Okt 2025
ECCV 2026: European Conference on Computer VisionMalmö, 
Schweden
6. Mär 20268-13. Sep 2026
BMVC 2025: British Machine Vision ConferenceSheffield,
UK
16. Mai 202524-27. Nov 2025
WACV 2026: IEEE/CVF Winter Conference on Applications of Computer VisionTucson, 
Arizona,
USA
18. Jul 2025 +
12. Sep 2025
6. Feb - 10. Mär 2026
ICIP 2025: IEEE International Conference on Image ProcessingAnchorage,
Alaska
5. Feb 202514-17. Sep 2025
ISPRS 2026: International Society for Photogrammetry and Remote Sensing CongressToronto,
Kanada
3. Nov 20254-11. Jul 2026
ICPR 2026: IAPR International Conference on Pattern RecognitionLyon,
Frankreich 
20. Dez 202517-21. Aug 2026
ICDAR 2025: IAPR International Conference on Document Analysis and RecognitionWuhan, 
China
7. Feb 202516-21. Sep 2025
ACCV 2026: Asian Conference on Computer VisionOsaka, Japan5. Jul 202614-18. Dez 2026
MVA 2025: IAPR International Conference on Machine Vision and ApplicationsKyoto,
Japan
31. Mär 202526-28. Jul 2025
ICIAP 2025: IAPR International Conference on Image Analysis and ProcessingRom,
Italien
1. Feb 2025 +
15. April 2025
15-19. Sep 2025
GCPR 2025: DAGM German Conference on Pattern RecognitionFreiburg,
Deutschland
4. Jun 202523-26. Sep 2025
IVCNZ 2025: International Conference on Image and Vision Computing New ZealandWellington,
Neuseeland
21. Aug 202519-21. Nov 2025
CAIP 2025: International Conference on Computer Analysis of Images and PatternsLas Palmas,
Gran Canaria,
Spanien
10. Apr 202522-25. Sep 2025

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Organisationen (Auswahl)

  • IEEE Computer Society
  • Association for Computing Machinery (ACM)
  • The Computer Vision Foundation (CVF)
  • International Society for Photogrammetry and Remote Sensing (ISPRS)
  • International Association for Pattern Recognition (IAPR)
  • European Computer Vision Association (ECVA)
  • Open Geospatial Consortium (OGC)

  • Gesellschaft für Informatik (GI)
  • Deutsche Arbeitsgemeinschaft für Mustererkennung (DAGM)
  • Deutsche Gesellschaft für Photogrammetrie, Fernerkundung und Geoinformation (DGPF)
  • Gesellschaft für Geodäsie, Geoinformation und Landmanagement (DVW)
  • Deutsche Geodätische Kommission (DGK)