Coudraystraße 13A, Raum 115
Laserpartikelanalysator LS 230, COULTER
Laserpartikelanalysator LS 13 320, BECKMAN COULTER
Kornformmessgerät Morphology G3, MALVERN
Stereomikroskop SV 11, ZEISS mit HT-Heiztisch
BET-Messung der spezifischen Oberfläche, COULTER
BLAINE-Messung der spezifischen Oberfläche, TONI TECHNIK
Luftstrahlpräzisionssieb LPS 200 MC, RHEWUM
Feuchtemessgerät Halogen HR83, METTLER TOLEDO
Siebanalyse mittels Mikrosiebung USD 751 und EMS 89, TOPAS
Siebmaschine (inkl. Nasssiebung) FRITSCH
Vibrationssiebmaschine Vibtronic VE1, RETSCH