REM-Labor

Coudraystraße 11A, Raum 218

Drei Elektronenmikroskope stehen zur Verfügung:

REM kombiniert mit fokussiertem Ionenstrahl (Helios G4 UX DualBeam, Thermofisher Scientific)

Niedrig Vakuum / Niedrig Spannung REM (NovaNanoSEM 230, FEI)

Niedrig Vakuum Hochauflösungs-SEM, Nova NanoSEM 230 (Fa. FEI)

Analytik: EDX und EBSD CCD Kamera (EDAX)
Vorteil: Hochauflösung bei Hoch- und Niedrigvakuum, cryo-Probenhalter und Transfersystem (Leica)
Anschaffung: 2008

Niedrig Vakuum REM (ESEM-FEG, XL 30, Philips)

Niedrig Vakuum (environmental) REM, XL30 ESEM-FEG (Fa. Philips)

Analytik: EDX Detektor (EDAX)
Vorteil: Untersuchung bei bis zu 100% Luftfeuchte
Anschaffung: 1998

Weitere Ergänzungen zur REM Probenpräparation:

  • Cryo-Präparationseinheit bestehend aus einer Hochdruckgefrieranlage HPM 100 (Leica) und einer Gefrierbruch- und Sputteranlage MED 020 der (Leica)
  • Sputtercoater SCD 500 zum Aufbringen dünner leitfähiger Schichten (Leica)
  • Sputtercoater S-150B (Edwards)
  • Kritisch-Punkt-Trocknungsanlage (Bal-Tec)
  • Vakuumeinbettung mit Kunstharzen für die Anschliffpräparation (Buehler)
  • Schleif- und Poliereinrichtung auf Diamantbasis sowie Vibrationspoliermaschine (Buehler)
  • Präzisionssäge IsoMet4000 (Buehler)
  • Argon Ionenstrahlätzsystem EM TIC 3X (Leica)
  • Präzisionssäge, Schleif- und Poliereinheit EM TXP (Leica)

Weitere Geräte:

  • Energiedispersives Röntgenmikrofluoreszenz Spektrometer µXRF Orbis PC (AMETEK )
  • Dynamische Lichtstreuung, NanoSight LM10HS (Partikelgrößenmessgerät bis 10 nm) (NanoSight Ltd.)
  • Auflichtmikroskop (Hell- Dunkelfeld)
  • Digitale Scanning- und Bildbearbeitungssysteme der Firma Olympus/SIS
  • Glove-Box zur CO2-freien Bearbeitung und Lagerung von Proben
  • Messstand zur Analyse wässriger Systeme (elektr. Leitfähigkeit, pH-Wert, Ca-Ionenselektive Elektrode)