SEM/FIB-Labor

Im Dezember 2017 bewilligte die DFG der Bauhaus-Universität Weimar (Verwendungsstelle F. A. Finger-Institut für Baustoffkunde) im Rahmen des Programms "Forschungsgroßgeräte" nach Artikel 91b Abs. 1 S. 1 GG i.V.m. AV-FuG Investitionsmittel von 940.000 Euro zur Beschaffung eines "Analytischen, ultrahochauflösenden Rasterelektronenmikroskops mit fokussiertem Ionenstrahl (SEM/FIB)" unter dem Vorbehalt der Kofinanzierung in gleicher Höhe durch das Land Thüringen entsprechend den landesrechtlichen Regelungen.

Die Gesamtsumme einschließlich Landesanteil beträgt 1.880.000 Euro.

Die Zuweisung von Haushaltsmitteln aus dem Einzelplan 07, Kapitel 0703, Titel 893 82 zum Zwecke des Erwerbs des SEM/FIB erfolgte am 5. März 2018 als Förderung innerhalb des Schwerpunktes "Forschungsbezogene Gebäudeinfrastruktur der Hochschulen und außeruniversitären Forschungseinrichtungen" im Rahmen des Operationellen Programms des Freistaates Thüringen für den Einsatz des Europäischen Fonds für regionale Entwicklung -EFRE- in der Förderperiode 2014-2020.

Die rasterelektronenmikroskopische Charakterisierung von Baustoffen, speziell Materialien auf Basis von Portlandzement ist ein wesentlicher Baustein für das grundlegende Materialverständnis. Fortschritte in der Charakterisierung waren nur möglich durch fundamentale Weiterentwicklung der entsprechenden Mikroskope. Die neuesten rasterelektronenmikroskopischen Entwicklungen zielen auf eine ultrahochauflösende dreidimensionale Abbildung und quantitative Analyse von Nano- bis Mikrostrukturen. Durch die Technik des "FIB - Focused Ion Beam" (fokussierter Ionenstrahl) in Kombination mit einem Elektronenmikroskop, dessen Auflösung besonders bei niedrigen Beschleunigungsspannungen durch Nutzung eines Monochromators signifikant (0,7 nm, 1 kV) besser ist als beim bisher vorhandenen Mikroskop (1 ,6 nm, 1 kV), ergeben sich völlig neue strukturelle Einblicke. In Voruntersuchungen konnte gezeigt werden, dass damit eine hochauflösende dreidimensionale Abbildung von ultrahochfesten Betonen möglich ist. In Kombination mit neuesten analytischen Möglichkeiten (fensterloses energiedispersives Röntgenspektrometer) bietet das SEM-FIB die Möglichkeit, völlig neue quantitative Einblicke in die Struktur von verschiedenen Baustoffen zu erhalten.

Beteiligte und Unterstützer:

Dezernat Forschung

Dezernat Finanzen

Links:

DFG - Förderung Wissenschaftlicher Geräte und Informationstechnik

Thüringer Ministerium für Wirtschaft, Wissenschaft und Digitale Gesellschaft

EFRE - Europäischer Fonds für regionale Entwicklung

Kontakt

Bauhaus-Universität Weimar
Fakultät Bauingenieurwesen 
F. A. Finger-Institut für Baustoffkunde 
Dr. rer. nat. Christiane Rößler
Coudraystr. 11A, Raum 205
99423 Weimar

Tel.: +49 (0) 36 43/58 47 54
E-Mail: christiane.roessler[at]uni-weimar.de